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日本KETT LZ-200J兩用膜厚計采用電磁和渦流兩種測量模式，精度達2%，測量1500μm內的磁性金屬底材涂層或800μm內的非磁性金屬上涂層。

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計產品簡介：

LZ-200J采用電磁和渦流兩種測量模式，可無損檢測磁性金屬上非磁性覆層厚度及非磁性金屬上絕緣層厚度，內置打印機、有統計儲存、連接電腦等功能，對微小厚度的涂鍍層測量有較高的準確度。本產品廣泛用于汽車制造、船舶制造、金屬加工等各領域行業。

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計技術參數：

測定方法：電磁誘導式+渦電流式

測定對象：磁性金屬上的非磁性薄膜及非磁性金屬上的絕緣膜

測量范圍：

電磁式：0～1500μm或60.00 mils

渦流式：0～800μm或32.00 mils

測量精度：

電磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%

渦流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%

測試面積： 3*3mm

測試單位：公/英制

分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm

統計功能： 測試次數、較大/較小值、平均值、標準偏差

顯示方式：LED數顯

探針：一點接觸恒壓式(LEP - J，LHP - J)

外部輸出： RS-232C接口(傳送速度2400 bps)

尺寸、質量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g

附件： 探頭/基體/校正標準片/電池/V型塊/變壓器/皮套/合格證/說明書

附加功能：內置打印功能、儲存統計功能、連接電腦功能(RS232標準接口)

界限設定：可設定上/下限

電源：電源AC 100V(50 / 60Hz)或電池1.5 V(單3堿)

日本KETT LZ-200J兩用膜厚計配置清單：

基體x1、校正標準片x1、電池x10、皮套x1、說明書x1