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ORTEC TETRAD探測(cè)器設(shè)計(jì)在有限的幾何空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)了較高的效率，并適用于20 keV至10 MeV的寬能量范圍。

美國(guó)ORTEC TETRAD N型高純鍺 (HPGe) 探測(cè)器產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

ORTEC公司于20世紀(jì)70年代率先研發(fā)出N型高純鍺(HPGe)探測(cè)器，并在90年代制造了由四個(gè)N型HPGe探測(cè)器組成的TETRAD探測(cè)器。ORTEC TETRAD探測(cè)器設(shè)計(jì)在有限的幾何空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)了較高的效率，并適用于20 keV至10 MeV的寬能量范圍。如今，ORTEC在N型探測(cè)器制造領(lǐng)域保持著該有的地位，并很高興能夠?yàn)樾枰谟邢蘅臻g內(nèi)提供良好效率和高能量分辨率的核物理應(yīng)用提供標(biāo)準(zhǔn)的TETRAD探測(cè)器配置。

四個(gè)高純鍺(HPGe)探測(cè)器均采用同軸晶體結(jié)構(gòu)，其中鍺晶體的兩面呈90度角，剩余的縱向表面橫跨兩面之間的弧線。這四個(gè)探測(cè)器緊密排列，形成“三葉草”狀，并安裝在同一個(gè)端蓋內(nèi)。低溫恒溫器由連接的5升杜瓦瓶中的液氮冷卻，可提供約12小時(shí)的保持時(shí)間。

ORTEC TETRAD探測(cè)器中使用的N型鍺材料具有兩個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)。首先，它可以較大限度地減少中子和質(zhì)子粒子(在核物理實(shí)驗(yàn)應(yīng)用中經(jīng)常出現(xiàn))對(duì)探測(cè)器分辨率的降低。

此外，在HPGe探測(cè)器內(nèi)相互作用的光子在沉積全部能量之前會(huì)發(fā)生多次散射。根據(jù)能量的不同，光子可能在一個(gè)探測(cè)器中沉積部分能量，然后散射到相鄰的探測(cè)器中，剩余的能量沉積在這些探測(cè)器中。為了補(bǔ)償這種散射并提供完整的峰值能量測(cè)量，ORTEC

N型探測(cè)器在外部表面采用薄的注入電級(jí)，蕞大限度地提高了入射或散射光子的透射效率，即使是低能量光子也能被有效傳輸。

來自四個(gè)探測(cè)器的能量信號(hào)被獨(dú)立收集。為了校正散射的伽馬射線，可以使用“加回”算法來處理來自四個(gè)探測(cè)器的總輸出。使用“加回”方法，

TETRAD探測(cè)器的總效率可以遠(yuǎn)高于四個(gè)獨(dú)立組件效率的簡(jiǎn)單相加。

此外，采用四個(gè)帶有獨(dú)立前置放大器的小型晶體，使得該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)比單個(gè)大型探測(cè)器更高的計(jì)數(shù)率和更高的分辨率。

美國(guó)ORTEC TETRAD N型高純鍺 (HPGe) 探測(cè)器產(chǎn)品特點(diǎn)：

? 前表面和側(cè)面使用薄的接觸級(jí)(可探測(cè)到能量范圍20keV–10MeV的伽馬射線)，探測(cè)器之間位置緊密(間距約1.5mm)可蕞小化死層。

? 使用同軸幾何形狀的N型晶體

? N型高純鍺材料

? 5升杜瓦罐(液氮保持時(shí)間可達(dá)12小時(shí))

? 堅(jiān)固可靠的設(shè)計(jì)

? 可獨(dú)立控制的4個(gè)前放

美國(guó)ORTEC TETRAD N型高純鍺 (HPGe) 探測(cè)器產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

? 在有限空間內(nèi)計(jì)數(shù)效率?允許“加回”模式

? 成型時(shí)間短，能量分辨率高

? 良好的峰識(shí)別能力和信噪比

? 良好的抗中子、質(zhì)子能力

? 良好的退火能力，如發(fā)生損傷可恢復(fù)性能

? 全方向—允許探測(cè)器安裝在任意方位

? 探測(cè)器的性能和壽命更加可靠

? 真空完整性與常規(guī)探測(cè)器近似

? 安裝簡(jiǎn)單

? 允許對(duì)每個(gè)探測(cè)器單獨(dú)優(yōu)化并且提高系統(tǒng)整體的性能

美國(guó)ORTEC TETRAD N型高純鍺 (HPGe) 探測(cè)器典型應(yīng)用：

科研機(jī)構(gòu)/高校

ORTEC TETRAD探測(cè)器廣泛應(yīng)用于核物理研究，尤其適用于需要在有限體積內(nèi)實(shí)現(xiàn)相對(duì)效率和能量分辨率的應(yīng)用。例如，ORTEC TETRAD探測(cè)器已被用于多探測(cè)器陣列，用于：

? 用于核截面和核結(jié)構(gòu)評(píng)估的束線實(shí)驗(yàn)。

? 用于裂變碎片產(chǎn)額(分支比)的輻照材料評(píng)估。

我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。

美國(guó)ORTEC TETRAD N型高純鍺 (HPGe) 探測(cè)器技術(shù)參數(shù)：

TETRAD-20探測(cè)器	四個(gè)相對(duì)效率為20%的N型高純鍺(HPGe)探測(cè)器
效率	每個(gè)探測(cè)器元件的相對(duì)效率為20%
分辨率	每個(gè)探測(cè)器在1.33MeV時(shí)，F(xiàn)WHM≤2.25keV(典型性能低于2.00keV)； 每個(gè)探測(cè)器在122keV時(shí)，F(xiàn)WHM≤1.30keV(典型性能低于1.15keV)
能量范圍	20keV至10MeV
峰值康普頓散射比	約為43:1
冷卻器	液氮。蕞小容量5升(保持12小時(shí))
前置放大器	四個(gè)獨(dú)立的前置放大器(每個(gè)探測(cè)器一個(gè)),采用約140毫米的遠(yuǎn)程配置
探測(cè)器間距	探測(cè)器元件間距約為1.5毫米。端蓋到探測(cè)器的間距約為10毫米
端蓋材質(zhì)	鋁